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瀏覽器自帶分享功能也很好用哦~FEl Talos? F200X掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM) 可提供*快、*準確且量化的多維度納米材料表征。
?FEl Talos F200X 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，非常適合學術界、**和工業(yè)研究環(huán)境中的高級研究與分析。
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產(chǎn)品詳情
FEl Talos? F200X掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM) 可提供*快、*準確且量化的多維度納米材料表征。
FEl Talos F200X 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，非常適合學術界、**和工業(yè)研究環(huán)境中的高級研究與分析。
產(chǎn)品特點:
●更好的圖像數(shù)據(jù):
配備同步多重信號檢測的高通量STEM 成像可實現(xiàn)更好的對比度，
●從而可提供高質(zhì)量圖像
更短的化學成分數(shù)據(jù)生成時間:
快速、精確且量化的 EDS 分析 可揭示納米級細節(jié)
●為擴大應用提供空間:
添加特定于應用的原位樣品桿以開展動態(tài)實驗
●更高的穩(wěn)定性:
采用儀器罩和遠程操作來提高環(huán)境***
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